PODSTAWKA TESTOWA ZIF 40 PIN ZACISKANA ZIF40
8,00 zł
Podatek VAT wliczony
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.
PODSTAWKA ZIF40 40-PIN
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych.
Posiada dźwignię przy
pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów
układów scalonych, lub innych modułów.
raster pomiędzy rzędami: 15.24 mm
raster: 2.54 mm
napięcie: < 50V DC
prąd: 100mA/styk
żywotność: min. 25.000cykli
rezystancja styku: max. 50mΩ
temperatura pracy -25°C ÷ +70°C
Klienci którzy zakupili ten produkt kupili również:
8,40 zł8,75 zł
15,50 zł
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.
PODSTAWKA TESTOWA ZIF 40 PIN ZACISKANA ZIF40
8,00 zł
Podatek VAT wliczony